HED-G5000 全自动静电放电及闩锁效应测试机,具备模拟人体放电模式(HBM)和机器放电模式(MM)的能力,用于测试和评估封装级半导体元器件的抗 ESD 能力及等级,同时支持闩锁测试(Latch-up)。
支持最大 2048 个测试通道。
模块化设计,可在客户现场完成测试通道拓展升级。
特殊接地设计带来超低寄生电容,符合 ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 低寄生电容要求。
满足 JEDEC、ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023、AEC、MIL-STD-883、GJB 等标准。
| 型号 | HED-G5000 |
|---|---|
| 中文名 | 全自动静电放电及闩锁效应测试机 |
| 测试模式 | HBM、MM、Latch-up |
| 最大通道 | 2048 |