HANWA
用于半导体元器件静电保护电路抗静电能力测试，也可通过 GATE 端加 DC 电源测试功率器件 SOA 特性曲线。
HED-T5000 TLP 测试机，用于半导体元器件静电保护电路抗静电能力的测试，通过该测试可了解元器件抗静电能力的特性参数；也可通过给 GATE 端加 DC 电源，测试功率器件的 SOA 特性曲线。
评估静电保护电路抗静电能力及特性参数。
支持通过 GATE 端加 DC 电源测试功率器件 SOA 曲线。
