MPI 差分射频探针

技术优势

• 概述

  差分射频探针可以通过使用模块化设计、预标准化组件和 MPI 自己的基于 MEMS 的探头尖端技术进行单独配置，该技术可以快速交付。差分射频探针，它能够对大型集成电路进行宽温度范围的表征，并且在屏蔽环境中使用更方便。它的尺寸与标准射频探头完全兼容，因此它允许象限测试配置，而无需进一步重新调整。差分射频探针旨在降低现代高度集成射频集成电路的测试成本。它提供了 20μm 的接触宽度与较小的探头间距（从 50μm 开始）、较长的寿命（在铝焊盘上超过 100 万次触地周期）、经济实惠的价格和较短的交货时间的独特组合。