MPI

MPI Die Prober Series

高可配置性减少测试费用多点试验

MPI模具探针系列-极快的探测和分类周期，以降低测试成本。

产品简介

MPI模具探针系列-极快的探测和分类周期，以降低测试成本。

说明	无论是VCSEL, EEL, PD还是LED, MPI广泛的Die probe系列都能提供高性能的系统性能，以满足测试和测量要求。凭借其灵活的系统可配置选项，快速的探针和测试周期时间以及多站点测试能力，MPI模具探针将您的生产提升到一个新的水平，并将成为您测试各种光子学器件的完美系统。